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            檢測顯微鏡
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                檢測顯微鏡 CCM-400 CCM-400 檢測顯微鏡在觀察物體時能產生正立的三維空間影像。立體感強,成像清晰和寬闊,又具有長工作距離,并是適用范圍非常廣泛的常規顯微鏡。落射式檢測顯微鏡操作方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷(印刷錯位、塌邊等)的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD 的檢定等等,顯微鏡將實物的圖像放大后顯示在計算機的屏幕上,可以將圖片保存,放大,打印。配測量軟件可以測量各種數據。
           
          一、用途
               CCM-400 檢測顯微鏡在觀察物體時能產生正立的三維空間影像。立體感強,成像清晰和寬闊,又具有長工作距離,并是適用范圍非常廣泛的常規顯微鏡。落射式檢測顯微鏡操作方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷(印刷錯位、塌邊等)的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD 的檢定等等,顯微鏡將實物的圖像放大后顯示在計算機的屏幕上,可以將圖片保存,放大,打印。配測量軟件可以測量各種數據。
          落射式檢測顯微鏡
          檢測顯微鏡 CCM-400
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          二、系統簡介
              檢測顯微鏡系統是將傳統的光學顯微鏡與計算機通過光電轉換有機的結合在一起,不僅可以在目鏡上作顯微觀察,還能在計算機顯示屏幕上觀察實時動態圖像,并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
          三、技術參數:
          1.目鏡
          類型 放大倍數
          目鏡 10X

          2.物鏡變倍范圍 0.7X-4.5X
          3.顯微鏡為連續變倍,變倍比為 6:1
          4.移動工作距離:200mm
          5.總放大倍數:7—450X(以21寸電視機,2X倍的大物鏡為例)
          6.可以直接電視機或電腦上觀察實物圖像
          四、儀器特點:
             獨特光學設計,結構新穎,表現最佳解像度及真實彩色影像,視場寬,工作距離長,真正垂直光路
             大變倍范圍,適合不同樣本大小,均勻照明整個視野,使用無光影同軸照明燈
             電腦圖像攝取和分析系統等細致顯現
          五、系統組成
             電腦型落射檢測顯微鏡(CCM-400E):1、顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、圖像采集卡 5.計算機
          六、參考放大倍數
              電腦型落射檢測顯微鏡(CCM-4000E):7-320倍(以17寸顯示器,2X倍的大物鏡為例)
          七、選購件   打印此欄樣本  
            相關附件   分析軟件
           
          典型應用圖例 儀器圖解說明
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